摘要
2008年11月16~19日在北京成功召开了第四届全国工业过程测量和控制标准化技术委员会及第一、第二、第四、第五分技术委员会第一次全体会议。会上国家标准化管理委员会领导做了重要讲话,肯定上一届标委会工作成绩,提出新一届标委会工作希望。标委会及各分委会的主任委员和秘书长分别做了总结报告。IEC国际标准化专家Ludwig Winkel先生和Christian Verney先生分别做了IEC/SC65C和IEC/SC65E最新标准化工作报告。其他专家还做了相关报告。会议期间还分别进行了相关标准审查。此次标委会的成功召开,是工业自动化和仪表领域的又一次盛会,对我国工业自动化与标准化发展起到了积极作用。
出处
《仪器仪表标准化与计量》
2008年第6期I0001-I0001,I0004,共2页
Instrument Standardization & Metrology