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电子回旋共振等离子分解CH_(19)Si_2N制备SICNB膜XPS分析

XPS ANALYSIS OF SICNB FILM SYNTHESIZED BY ELECTRON CYCLOTRON RESONANCE PLASMA DECOMPOSITION CH 19 Si 2N-N 2
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摘要 电子回旋共振等离子分解CH19Si2N-N2混合气体,采用溅射共混、气相液相共混沉积技术,制备四元素SiCNB膜,由XPS分析了膜的成份及生成的键结构,发现溅射共混、气液共混沉积过程中聚合成了C-N、C-B、N-B、Si-C化合物。 The paper report formation of four elements SiCNB film by electron cyclotron resonance plasma decomposed CH 19 Si 2N-N 2hybrid gas assisted sputter Co-mixing and gas-liquid phase Co-mixing technology. composition and chemical bond of film were analysized by XPS. Expriment showed that formation of Si-c, C-B, C-N, B-N vond as well as Bc 2N structure in the films at sputter Co-mixing and gas-liquid phase Co-miximg.
出处 《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 1998年第2期235-239,共5页 Journal of Atomic and Molecular Physics
基金 国防预研基金
关键词 电子回旋共振 共混沉积 等离子分解 SICNB 薄膜 Electron cyclotron resonance Co-mixing deposition Chemical bond
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Liu Chihchien,Appl Phys Lett,1995年,66卷,2期,168页
  • 2Chumming Nice,Science,1993年,261卷,16期,334页
  • 3张大忠,四川大学学报

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