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激光干涉仪的动态示波器功能

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摘要 Renishaw XL80激光测量系统以其固有的高精度(±0.5ppm)和高分辨率(高达1纳米)的优势,成为机床及坐标测量机(CMM)校准和检定领域毋庸置疑的市场领导者。目前,数以千计的Renishaw激光系统正在世界各地的诸多行业和应用领域广泛地使用。
出处 《计量技术》 2008年第12期81-81,共1页 Measurement Technique
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