GE推出无损检测(NDT)最新解决方案

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摘要 GE传感与检测科技在10月26日举行的世界无损检测大会上展出其在无损检测（NDT）解决方案领域的最新创新技术。产品包括第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XLGo、特别为NDT领域开发的计算机涉嫌成像扫描仪CRx Flex、Phasec 3系列便携式涡流探伤仪以及全新的Phasor系列便携式相控阵探伤仪。

出处《集成电路应用》 2008年第11期23-23,共1页 Application of IC

关键词无损检测 GE 涡流探伤仪视频内窥镜创新技术 FLEX 便携式手持式

分类号 TN929.5 [电子电信—通信与信息系统] TG115.28 [金属学及工艺—物理冶金]

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