摘要
1概述 在传统的半导体自动化测试中，驱动器／比较器／负载（Driver／Comparator／Load．简称DCL）和参数测量单元（Parametric Measurement Unit，简称PMU）通过“选择继电器”交替连接待测器件（Device Under Test，简称DUT）。详细说明Maxim公司的DCL（MAX9961／62、MAX9967／68）和PMU（MAX9949／50、MAX9951／52）的独特功能，
出处
《电子设计工程》
2009年第1期110-110,共1页
Electronic Design Engineering
