摘要
主要介绍了当前高速数字信号测试中的一些处理方法,依据这些处理方法,阐述了如何在Verigy93000机台上进行高速数字集成电路器件的测试。
This paper mainly gives an introduction of current methods of dealing with high speed digital signal testing, according to these methods, explains how to test high speed digital integrated circuit base on Verigy93000.
出处
《信息技术与标准化》
2009年第1期61-64,共4页
Information Technology & Standardization
基金
电子行业军用标准研究"高端通用芯片评测技术预先研究"(H07100604)
