应用移动探针测试仪检测MCM(多芯片模块)
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1苏雁.移动探针测试数据处理技术的研究[J].印制电路信息,2003,11(2):58-58.
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2Randy Allinson,Bob Houlihan,齐兰俊.协同的质量控制——AOI和移动探针电测相结合[J].印制电路信息,1996,0(1):14-14.
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3唐耀明.移动探针测试技术的运用及测试结果剖析[J].中国钨业,2003,18(4):41-43.
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4李海.移动探针的裸板测试系统初探[J].印制电路信息,1995,0(7):45-47.
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5Don Hague,俞文野.基板测试的未来[J].印制电路信息,1999,0(4):38-40.
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6Randy T.Allmson,李志燕.移动探针测试[J].印制电路信息,1994,0(10):45-48.
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7Seica将在2006年CPCA SHOW上展示新一代飞针测系统[J].印制电路资讯,2006(2):89-89.
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8Christophe,Vaucher,丁志廉.电气测试[J].印制电路信息,2001(5):41-41.
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9宿昌厚,鲁效明.双电测组合法测试半导体电阻率的研究[J].Journal of Semiconductors,2003,24(3):298-306. 被引量:19
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10移动探针测试的几个问题[J].印制电路信息,1996,0(3):28-33.
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