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FPGA可测性设计研究

Research on FPGA Mensurability Design
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摘要 提出了FPGA芯片CLB模块的向量级连测试、内建自测试和互连资源内建自测试等可测性设计方法,在保证测试覆盖率的同时通过优化测试程序控制测试代价增长。 This paper presents vector measurement of CLB, BIST of CLB and internet resource, which improves measurement coverage and reduces costs of measurement program.
作者 江海航
出处 《舰船电子工程》 2009年第1期186-189,共4页 Ship Electronic Engineering
关键词 可测性设计 故障模型 内建自测试 measurement design, fault model, BIST
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参考文献1

二级参考文献7

  • 1Huang W K,Proceedings ATS’ 97,Akia,Japan,1997年,248页
  • 2Huang W K,Proceedings IEEEConference on Innovative Systems in Silicon,1997年,249页
  • 3Huang W K,Proceedings IEEEInternational Symposium on Defect and Fault Tolerance inVL SI Sy,1997年,186页
  • 4Huang W K,Proceedings 14th IEEE VLSI Test Symposium,1996年,331页
  • 5Huang W K,Proceedings 14th IEEE VLSI Test Symposium,1996年,450页
  • 6Liu T,Proceedings ACMInternational Symposium on FPGAs,1995年,125页
  • 7Chan P K,Proceedings IEEE Workshop onF PGAs for Custom Computing Machines,1993年,152页

共引文献12

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