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高加速寿命试验和高加速应力筛选技术 被引量:4

Technology for Highly Accelerated Life Test and Highly Accelerated Stress Screening
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摘要 文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选(HALT & HASS)技术,重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时间与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。 This paper simply introduces technology for highly accelerated life test and highly accelerated stress screening,mainty elaborates its principle and test method, in order to make out how to implement purpose for Reducing development time and cost and for enhancing the competition ability.
作者 刘宏 全凌云
出处 《电子质量》 2009年第2期55-57,共3页 Electronics Quality
关键词 寿命试验 应力筛选 高加速 技术 Life Test Stress Screening Highly Acoelerated Technology
  • 相关文献

参考文献1

  • 1RelexSoftwareCo.,Intellect著,陈晓彤等.可靠性实用指南[M]北京航空航天大学出版社,2005.

同被引文献29

引证文献4

二级引证文献13

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