摘要
本文介绍了一种适合硅粒子探测器的自动中测系统。可同时测量１６个样品，全部由微机控制。数据存放在微机中，可以给出统计数据，也可绘出特性曲线，从而大大提高了测试效率与质量。目前用于测量硅粒子探测器反向Ｉ－Ｖ曲线。实验表明：本装置测得的数据是可靠的，并大大提高了效率。
In this paper, a new automatic measuring system for silicon detector for particles is introduced. It can measure 16 detectors simultaneously. (
出处
《核电子学与探测技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第3期166-169,228,共5页
Nuclear Electronics & Detection Technology
基金
国家自然科学基金
