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R＆S测试方案创新应对集成电路测试难题

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摘要 R＆S公司将参加分别于2009年2月26日至27日在深圳会展中心及3月10日至11日在上海世贸商城举办的“2009年国际集成电路研讨会暨展览会”，展示其针对集成电路的测试解决方案。

出处《中国无线电》 2009年第2期81-81,共1页 China Radio

关键词集成电路测试方案创新测试解决方案 R&S公司会展中心展览会

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学] S513 [农业科学—作物学]

引文网络
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中国无线电

2009年第2期

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