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用 CCD 实现精密的长度测量
被引量:
5
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摘要
本文介绍一种不经过光学放大就能将CCD的分辨率由象元间距14μm提高到14μm,甚至更高的象元空间细分方法,使CCD能用于精密的长度测量。文章从CCD的工作原理入手,分析了象元空间细分的可能性,并提出了实现细分的电路和数据采集的方法。
作者
郑友琴
袁旭军
机构地区
上海理工大学
出处
《电测与仪表》
北大核心
1998年第2期45-47,共3页
Electrical Measurement & Instrumentation
关键词
线阵CCD
精密测试
长度测量
象元细分
分辨率
分类号
TG81 [金属学及工艺—公差测量技术]
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
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