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单片机在温度数据测试系统中的应用 被引量:1

Applications of Monolithic Integrated Circuits in Temperature Test System
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摘要 重点介绍由MCS-51单片机控制的温度测试系统的硬件结构,并在此基础上进行了软件设计。系统采用上位机和下位机组成的主从式结构,上位机采用组态软件,配合下位机的开发工作,下位机以MCS-51单片机为代表。 This paper gives emphasis to introduce the temperature test system's hardware architecture, which is controled by the MCS-51 monolithic integrated circuit and the software design is carded out on the basis. This system may use the superior machine and the lower position machine composition host; the superior machine uses the configuration software to coordinate the lower posi- tion machine development work and the lower position machine takes MCS -51 the monolithic integrated circuit as representative.
作者 王晓萍
出处 《机械制造与自动化》 2009年第1期153-153,156,共2页 Machine Building & Automation
关键词 MCS-51单片机 数据采集 温度测试 A/D转换 MCS-51 monolithic integrated circuit data acquisition temperature test A/D transforms
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