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BST指令实现的结构探讨

How to Implement Structure Design for BST Instructions
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摘要 IC器件本身的逻辑性是否正确、IC与PCB板之间是否存在的焊接短路/开路、不同的IC之间的互联检测、Flash数据下载,均需要边界扫描技术的支持.BST的复杂操作关键要借助不同的指令来辅助完成.指令的实现可以有不同的电路逻辑结构,不同的方式存在较大的差异.本文将讨论不同的BST指令实现的结构,并加以比较. It's necessary to check IC devices' logic, to find whether there are short or open connections between IC and PCB, to make BST to different ICs, to load data for Flash memory. To do these, we need BST technology. The BST complex operations are completed with the help of instructions. There are different circuit logic structure designs for BST instructions, and big differences exist between them. This paper discusses how to design circuits for BST instructions, and makes comparison.
作者 王桃发
出处 《河北工业大学学报》 CAS 北大核心 2009年第1期56-60,共5页 Journal of Hebei University of Technology
关键词 边界扫描测试 指令 JTAG TAP 嵌入式 BST instruction JTAG TAP embed
  • 相关文献

参考文献5

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  • 4潘松,黄继业.EDA技术实用教程[M].第三版.北京:科学出版社,2007.
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二级参考文献3

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  • 2IEEE, IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture.
  • 3Steve Furber, ARM System-on-chip Architecture, 北京: 北京航空航天大学出版社.

共引文献5

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