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FeMnSi基合金中层错几率的X衍射线形分析法测定 被引量:6

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摘要 堆垛层错是一种对金属、合金的相变及某些性质有重要影响的晶体缺陷。用X射线衍射线形分析法可以测定金属合金中的层错几率。本文采用近似函数法和付立叶分析法测定了FeMnSi基形状记忆合金中的层错几率,得到了有规律的结果;同时,将两种方法所得的数据进行了比较,并讨论了近似函数的选择和工具线宽对层错几率计算结果的影响。
机构地区 上海交通大学
出处 《理化检验(物理分册)》 CAS 1998年第2期16-18,共3页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
基金 国家自然科学基金重点项目(59331020)
  • 相关文献

参考文献3

  • 1何崇智等.X射线衍射实验技术[M]上海科学技术出版社,1988.
  • 2许顺生.X射线衍射学进展[M]科学出版社,1986.
  • 3许顺生.金属X射线学[M]上海科学技术出版社,1962.

同被引文献86

引证文献6

二级引证文献53

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