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变温条件下半导体霍尔系数及载流子浓度的测量 被引量:1

Apparatus the Semiconductor Hall Coefficient and Carrier Concentration at the Conditions of Different Temperatures
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摘要 利用简单的加热装置改装HL—IV型霍尔效应实验仪,利用改装后实验仪器测量不同温度条件下的半导体霍尔系数及其载流子浓度。 Using a simple heating device modifies HL-IV-based Hall-effect experiment equipment. Using the modified equipment apparatus the semiconductor Hall coefficient and carrier concentration at the conditions of different temperatures.
出处 《廊坊师范学院学报(自然科学版)》 2009年第1期50-51,54,共3页 Journal of Langfang Normal University(Natural Science Edition)
关键词 变温 霍尔系数 载流子浓度 测量 the ehanging of temperature Hall coefficient carrier concentration measurement
  • 相关文献

参考文献1

  • 1韩汝琦改编,黄 昆.固体物理学[M]高等教育出版社,1988.

同被引文献4

引证文献1

二级引证文献1

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