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光学经纬仪测微器隙动差检定的讨论

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摘要现行光学经纬仪检定规程(JJG 414-86)对光学测微器隙动差规定了在水平度盘上每间隔15°整置仪器,共进行12个位置的检定。此检定只对“度”有要求,而对“分”、“秒”没有要求。显然。

作者赵强

机构地区武汉市计量测试检定所

出处《计量技术》 1990年第5期27-29,共3页 Measurement Technique

关键词经纬仪测微器隙动差检定光学

分类号 TH761.106 [机械工程—精密仪器及机械]

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计量技术

1990年第5期

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