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基于FAN算法的测试产生系统及实验研究 被引量：4

A Test Generation System Based on FAN Algorithm and Experimental Research
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摘要 本文详细介绍了一个基于FAN算法的测试产生系统的实现以及利用该系统得到的一些有意义的实验结果。 This paper presents a test generation system based on FAN algorithm and several experimental results.
作者 李忠诚 闵应骅
机构地区 中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室
出处 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 1990年第2期59-68,共10页 Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics
关键词 VLSI 集成电路 FAN算法 测试
分类号 TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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同被引文献13

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引证文献4

二级引证文献5

计算机辅助设计与图形学学报
1990年 第2期

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