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测试测量

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摘要 泰克推出高性能逻辑分析仪模块TLA7BC4;安捷伦推出USB3.0超高速物理层一致性测试方案;吉时利发布高性价比元件测试解决方案。
出处 《电子设计应用》 2009年第1期112-112,共1页 Electronic Design & Application World
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