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泰克携手NEC演示SuperSpeed USB测试解决方案

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摘要 泰克公司日前宣布,与NEC电子美国公司合作,在2009年消费电子展(CES2009)上首次公开展示该公司的新型超高速USB(SuperSpeed USB/USB3.0)设备样机。作为设计和生产集成电路的全球领先者,NEC电子通过与泰克的合作,验证了其新型硅元件满足新兴超高速USB标准的要求。本次USB3.0实地演示采用NEC电子的USB3.0物理层测试芯片,是业内第一个基于USB3.0 Rev1.0规范的接收机和发射机演示。超高速USB接口芯片可望于2010年初批量生产。
出处 《中国集成电路》 2009年第3期6-7,共2页 China lntegrated Circuit

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