期刊文献+

数字测试仪下的参数测试单元的设计 被引量:4

下载PDF
导出
摘要 随着电子技术的迅速发展,数字集成电路得到了广泛的应用,数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域。与之相对应的,各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求。数字测试仪作为测试芯片性能最主要的技术正是在这样的环境下迅速发展起来。
出处 《今日电子》 2009年第4期68-69,75,共3页 Electronic Products
  • 相关文献

同被引文献16

  • 1孙同景.Freescale 9S12十六位单片机原理及嵌入式开发技术[M].北京:机械工业出版社,2010.
  • 2SE-KYOUNG Y,JI-HOON K,SUNG-KU C. A study oil the methodolo- gy for testing of RFID system at Library. International Conference on Digital Object Identifier: 10. 1109/MUE. 2007.58 Publication Year: 2007, Page(s) : 1076 - 1079.
  • 3AN10841 MIFARE Plus Card Coil Design (PUBLIC) Rev. Ol - 26 June 2009 172701. [2012 - 10 -07]. www. en. nxp. com.
  • 4FRITZ G, BEROULLE, V, NGUYEN M D, et al. Read-Error-Rate eval- uation for RFID system on-line testing. 2010 IEEE 16th International Digital Object Identifier: 10. 1109/IMS3TVi. 2010. 5503016 Publiea-tion Year :2010, Page(s) : 1 - 6.
  • 5Contaetless Single-trip Ticket tC MF0 IC UI Functional Specification Product Specification (PUBLIC) Rev. 3.8 -- 22 December 2010. 028638. [2012 - 10 -07]. www. cn. nxp. corn .
  • 6Cristo da Costa By from Teradyne, Inc. FIARDWARE FOR PRODUC- TION TEST OF RFID INTERFACE EMBEDDED INTO CHIPS FOR SMART CARDS AND LABELS USED IN CONTACTLESS PPLICA- TIONS. Test Conference,2000. Proceedings. International Digital Ob- ject Identifier: 10.1 I09/TEST. 2000. 894241 Pnblication Year:2000, Page(s) :485 -491.
  • 7凌华科技(中国)有限公司.Adlink gpib driver VER3.06User Guide CD,2012.
  • 8周磊.基于虚拟仪器的RFID测试系统的设计[D].武汉:华中科技大学.2007.
  • 9王宜怀,曹金华.嵌人式系统设计实战——基于飞思卡尔S12X微处理器[M].北京:北京航空航天大学出版汁,2011.
  • 10孙同景.Freescale9S12十六位单片机原理及嵌人式开发技术[M].北京:机械工业出版社,2010.

引证文献4

二级引证文献5

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部