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R＆S测试方案创新应对集成电路测试难题

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摘要 R＆S公司参加了2009年2月26至27日在深圳会展中心、3月10日至11日在上海世贸商城举办的“2009年国际集成电路研讨会暨展览会”，并展示其针对集成电路的测试解决方案。

出处《广播电视信息》 2009年第3期155-155,共1页 Radio & Television Information

关键词集成电路测试方案创新测试解决方案 R&S公司会展中心展览会

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学] S513 [农业科学—作物学]

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广播电视信息

2009年第3期

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