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检验半导体分立器件怎样运用结构相似性程序

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摘要 研究了结构相似性的涵义与应用的前提条件;在半导体分立器件品种构成特点的基础上,提出应用结构相似性的原则和可构成的方案;为军用标准的贯彻实施,实现鉴定扩展和合格资格维持提供了说明。
作者 蔡仁明
机构地区 电子部四所
出处 《电子标准化与质量》 1998年第3期18-21,共4页 Electronic Standardization & Quality
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