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Ta_2O_5薄膜MOS型湿敏元件的机理研究 被引量:1

The Research of Mechanism on Ta_2O_5 Thin Film MOS Humidity Sensitivity Component
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摘要 使用直流磁控反应溅射的工艺方法制备了Ta2O5薄膜MOS型湿敏元件,提出了元件的结构模型,并对其感湿机理进行了讨论. A Ta2O5 thin film MOS humidity sensitive component was prepared by dc magnetron reactive sputtering. The structure model of this component was presented and the mechanism of humidity sensitivity was discussed.
出处 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第5期83-85,共3页 Acta Electronica Sinica
关键词 薄膜 MOS 湿敏元件 氧化钽 Ta_2O_5,Thin film, MOS humidity sensitive component
  • 相关文献

参考文献2

  • 1陈国平,Vacuum,1990年,41卷,1204页
  • 2陈国平,传感技术学报,1990年,3卷,1期,15页

同被引文献4

  • 1Kazuaki K,Takeshi S,John D B.Electrical properties of low-inductance barium strontium titanate thin film decoupling capacitors[J].J Eur Ceram Soc,2004,24:1873-1876.
  • 2Riekkinen T,Molarius J.Reatively sputtered tantalum pentoxide thin films for integrated capcitors[J].Micorelectron Eng,2003,70:392-397.
  • 3Li A D,Wu D,Ling H Q.Role of interfacial diffusion in SrBi2Ta2O9 thin-film capacitors[J].Microelectron Eng,2003,66:654-661.
  • 4Atanassova E,Spassov D,Paskaleva A.Influence of the metal electrode on the characteristics of thermal Ta2O5 capacitors[J].Microelectron Eng,2006,83:1918-1926.

引证文献1

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