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嵌入式存储器的测试
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摘要
为了在最终应用中能满足日益增长的对高速运行的需求,标准的微处理器、专门的微控制器以及定制的专用集成电路纷纷在以处理器为内核的芯片中加入各种专门设计的单元(图1)。存储器常常占据了这些专门单元多达70%的总面积。
出处
《电子测试》
1998年第3期25-27,共3页
Electronic Test
关键词
嵌入式
存储器
测试
分类号
TP333.062 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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1
EvicHall George Costakis.
新型嵌入式存储器的设计策略及其验证方法[J]
.电子质量,2001(3):9-11.
2
DesignWareDuet:处理器内核设计套件[J]
.世界电子元器件,2013(9):33-33.
3
汪东.
嵌入式存储器面面观[J]
.今日电子,2005(12):38-42.
被引量:2
电子测试
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