期刊文献+

嵌入式存储器的测试

下载PDF
导出
摘要 为了在最终应用中能满足日益增长的对高速运行的需求,标准的微处理器、专门的微控制器以及定制的专用集成电路纷纷在以处理器为内核的芯片中加入各种专门设计的单元(图1)。存储器常常占据了这些专门单元多达70%的总面积。
出处 《电子测试》 1998年第3期25-27,共3页 Electronic Test

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部