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耐压试验中击穿和闪络现象之分析
被引量:
1
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摘要
笔者曾在本刊发表过题为《试谈耐压试验判断》(1995年第3期)和《再谈耐压试验判断》(1997年第3期),本文与这两篇文章的论述角度不同,如前有疑点,本文将进一步论述。
作者
蔡根明
机构地区
奉贤县产品质量监督检验所
出处
《上海计量测试》
1998年第2期30-31,36,共3页
Shanghai Measurement and Testing
关键词
耐压试验
击穿
闪络现象
电器
分类号
TM506 [电气工程—电器]
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上海计量测试
1998年 第2期
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