期刊文献+

电容惯性传感器的结构分析 被引量:1

Structure Analysis on Variable-capacitance Inertial Sensor
原文传递
导出
摘要 从质量块结构和梁结构2个方面进行分析,指出了定齿偏置质量块结构和折叠梁的梳齿式微机械加速度计的综合性能最好,并通过分析计算出了折叠梁在检测方向的刚度,为电容式惯性传感器进一步优化设计奠定了坚实的理论基础。 This paper analysis both mass block construction and the beam structure, presents that the best structure is folded beams and bias stationary structure of finger-shaped on variable-capacitance inertial sensor. Finally, its measure rigidity is figured out by analysis. This work will provide a theoretic foundation for the further optimum design of variable-capacitance inertial sensor.
出处 《武汉理工大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第6期142-145,共4页 Journal of Wuhan University of Technology
关键词 电容式惯性传感器 质量块 结构梁 定齿偏置梳齿结构 刚度 variable-capacitance inertial sensor mass block structure beam bias stationary of finger-shaped structure rigidity.
  • 相关文献

参考文献7

  • 1谭宜勇,金桐,苏卫国,赵新,卢桂章.电容式微加速度计的研制[J].传感技术学报,2008,21(4):585-588. 被引量:4
  • 2徐洪强.一种新型微惯性传感器的优化设计和研究[D].西安:西安交通大学,2004.
  • 3董林玺.新型体微电容工艺制造高性能惯性传感器的研究[D].杭州:浙江大学,2003.
  • 4董景新,赵常德,曹志锦,等.微惯性仪表[M].北京:清华大学出版社,2003.167—168.
  • 5胡雪梅.微电容式惯性传感器的系统分析[D].西安:西安电子科技大学,2006.
  • 6吕劲楠,唐洁影.MEMS微悬臂梁在冲击环境下的可靠性[J].功能材料与器件学报,2008,14(1):103-106. 被引量:10
  • 7冯勇建.MEMS电容应变传感器[J].仪器仪表学报,2008,29(3):629-632. 被引量:11

二级参考文献23

  • 1林雁飞,郑志霞,张丹,冯勇建.PYREX玻璃湿法凹槽腐蚀研究[J].微纳电子技术,2005,42(1):33-36. 被引量:5
  • 2赵新,任亮,李亚威,卢桂章.虚拟MEMS加工工艺建模、实现与系统验证[J].高技术通讯,2005,15(1):27-31. 被引量:4
  • 3郑志霞,林雁飞,冯勇建.7740玻璃湿法腐蚀凹槽及槽内光刻图形的研究[J].厦门大学学报(自然科学版),2005,44(3):370-372. 被引量:6
  • 4刘鸿文.材料力学[M].北京:高等教育出版社,1992..
  • 5Wagner U, Franz J,Schweiker M. Mechanical Reliability of MEMS - structures under shock load[ J ]. MicroelectronicsReliability, 2001,41 : 1657 - 1662.
  • 6Danelle M Tanner, Jeremy A Walraven, Karen Helgesen, et al. MEMS reliability in shock environments [ A ]. In. 38th Annual International Reliability Physics Symposium [C]. San Jose, California. 2000: 139- 145.
  • 7Victor S, Alastair T. MEMS failure analysis and reliability [ A]. Proceedings of 10th IPFA , IEEE [ C]. 2003. 17 - 22.
  • 8Jiang Lili, Tang Jieying. Strength Reliability for Surfaces Micro - machined Polycrystalline Silicon Micro - cantilevers [ A]. In: IEEE. 2005 6th International Conference on Electronic Packaging Technology[ C]. 617 - 620.
  • 9U Wagner, Muller - Fiedler R, Bagdahn J , et al. Mechanical reliability of epipoly MEMS structures under shock load [ A ]. The 12th international Conference on Solid State Sensors, Actuators and Microsystems, Boston [ C ]. 2003 , 175 - 178.
  • 10Michael S Baker, Kenneth R Pohl. High - G Testing of MEMS Mechanical Non - Volatile Memory and Silicon Re- Entry Switch[ J]. Sandia Report, 2005.

共引文献25

同被引文献2

引证文献1

二级引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部