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晶体光学法测定电瓷原料矿物组成及坯瓷结构

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摘要 介绍了用晶体光学法快速、准确地测定电瓷原料矿物组成及坯瓷显微结构,以控制原料质量,掌握坯资质量的情况,达到稳定和提高电瓷质量的目的;并建议在电瓷行业推广应用。
作者 李景恒
出处 《电瓷避雷器》 CAS 北大核心 1998年第3期27-32,共6页 Insulators and Surge Arresters
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参考文献1

  • 1李景恆.用转针法测定透明矿物的某些光性[J]硅酸盐学报,1965(03).

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