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Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索 被引量:1

CHEMICAL SHIFTS OF CrKβ PEAKS IN XRF SPECTRA BY Si(Li) SPECTROMETRY
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摘要 采用放射源241Am59.6keVγ射线分别激发金属Cr、Cr2O3和K2CrO4,用Si(Li)谱仪比较测量其Kx射线的能量。实验表明K2CrO4中CrKβ能峰相对于金属Cr有2.12±0.27eV的位移。 The energies of CrKβ XRays in metel Cr,Cr2O3 and K2CrO4,which are excited respectively by γray 596keV from radioactive source 241Am,have been measured by Si(Li)spectrometry.It is shown in the experiment that the peak of Cr Kβ Xray in K2CrO4 shifts 212±027eV compared to that in metel Cr.
出处 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第1期98-100,共3页 Spectroscopy and Spectral Analysis
基金 科学院"八五"重点项目 核分析技术开放实验室资助
关键词 化学位移 X射线荧光 CrKβ谱线 Chemical shift, XRF, Si(Li) spectrometry
  • 相关文献

参考文献5

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  • 9吴梅梅,光谱学与光谱分析

共引文献6

同被引文献233

引证文献1

二级引证文献8

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