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DV-4型光谱仪光谱工作曲线的干扰校正

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摘要 在DV-4型光电直读光谱仪的分析工作中,常会遇到元素间存在的相互干扰问题,识别和校正干扰是一项很重要的工作.识别干扰在有关资料中已有报道,本文讨论光谱工作曲线的干扰校正方法.1 工作曲线的产生假定在某波长,A为干扰元素,其浓度以C_A表示,B为被测元素,其浓度以C_B表示,则在此波长必能作一条B元素不受干扰时的回归工作曲线:C_B=a_BI_B+b_B (1)(I_B为B元素测得光强,a_B、b_B为回归常数,DV-4型光谱仪直接以上式进行数学校准).由于A元素的干扰,在此波长测得总光强值为A、B两元素光强值之和:
作者 罗洪波
出处 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 1998年第2期82-82,共1页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)
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