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非接触式光学测量设备具有哪些特点? 被引量:1

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摘要 在日常检测过程中,往往会碰到一些测量上的困难,比如测量一些薄、易变形或微细的部件,使用传统的卡尺去测量,效果并不理想。纵使拥有资深的测量员配合接触式的精密测量设备如CMM,亦会束手无策。
出处 《模具工程》 2009年第4期38-38,共1页 Mould &Die Project
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同被引文献1

  • 1王利明.研究跟踪直缝焊管焊缝图像算[J].国际信息科学与工程研讨会,2008,239-243.

引证文献1

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