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非接触式光学测量设备具有哪些特点?
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摘要
在日常检测过程中,往往会碰到一些测量上的困难,比如测量一些薄、易变形或微细的部件,使用传统的卡尺去测量,效果并不理想。纵使拥有资深的测量员配合接触式的精密测量设备如CMM,亦会束手无策。
出处
《模具工程》
2009年第4期38-38,共1页
Mould &Die Project
关键词
光学测量设备
非接触式
检测过程
CMM
测量员
分类号
V556.5 [航空宇航科学与技术—人机与环境工程]
TS873 [轻工技术与工程]
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模具工程
2009年 第4期
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