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对后配钥匙开启弹子锁痕迹的研究 被引量:1

Research on the Traces Left in Spring Locks by Duplicate Keys
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摘要 本文通过对原配钥匙与后配钥匙在弹子锁内形成痕迹的比较,分析了后配钥匙形成痕迹的原因及影响因素,为正确认识开锁痕迹作了一定的探索。 The article analyzes the reasons and affecting elements for the traces left by duplicate keys compared with the traces left in spring locks by original keys , thus does some research in distinguishing unlocking traces.
作者 雷中坚 俞文
出处 《河北公安警察职业学院学报》 2005年第3期27-28,共2页 Journal of Hebei Vocational College of Public Security Police
关键词 后配钥匙 原配钥匙 弹子锁 擦划线条 duplicate key original key spring lock scratched line
  • 相关文献

参考文献2

  • 1黄金铎.刑事案件现场物证分析[M]辽宁教育出版社,1988.
  • 2谈荣生.金属工艺学[M]江苏科学技术出版社,1984.

同被引文献1

引证文献1

二级引证文献2

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