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光学薄膜参数测试
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摘要
O484.5 2004032103 用紫外-可见光谱仪研究玻璃基掺氮二氧化钛薄膜的沉积速率和光学带隙=Research on deposition rate and opticalband gap of N-doped TiO<sub>2</sub> film on glass matrix by UV-Visspectroscopy[刊。
出处
《中国光学》
CAS
2004年第3期66-67,共2页
Chinese Optics
关键词
光学带隙
沉积速率
光谱仪
金刚石薄膜
硅酸盐材料
光学薄膜
玻璃基
薄膜厚度
声表面波器件
参数测试
分类号
O484.41 [理学—固体物理]
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中国光学
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