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光学加工工艺与设备

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摘要 TQ171.65 2004010739 基于相移电子莫尔条纹的深度非球面检测=Deep aspheric testing based on phase-shift electronic Moire patterns[刊,中]/程仕东(中科院长春光机所.吉林,长春(130022)),

出处《中国光学》 CAS 2004年第1期96-97,共2页 Chinese Optics

关键词莫尔条纹非球面检测精密工程加工技术超精密加工机床脆性材料工艺与设备光学零件光学元件相移

分类号 TN256 [电子电信—物理电子学]

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中国光学

2004年第1期

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