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orCAD Pspice的参数分析与最差情况分析

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摘要 随着电子技术的飞速发展,传统的电路设计方法已不能满足要求。orCAD Pspice的参数分析与最差情况分析将大幅改善设计过程复要的操作,既直观又方便快速。以两个常用电路为例,简要介绍两种分析方法的应用。
作者 饶文红
出处 《成都工业学院学报》 2001年第4期6-9,共4页 Journal of Chengdu Technological University
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