摘要
O438 2001021053利用位相信息的条纹微位移测量=Measurement of fringe shift using phase information[刊,中]/罗罡,方晖,方志良,母国光(南开大学现代光学研究所教育部光电信息技术科学开放实验室.天津(300071))//光学技术.—2000,26(2).-130-133讨论了在利用位相信息测量条纹亚像素级位移时,随机噪声、量化、像元尺寸和像元间隙对位移分辨力的影响,并给出了详尽的实验结果。图7参4(李瑞琴)
出处
《中国光学》
EI
CAS
2001年第2期45-51,共7页
Chinese Optics
