非光学量测试与设备

下载PDF

导出

摘要 TB92 2001021355光栅投影轮廓测量的系统标定技术=System calibrationtechnique of profilometry by projectedgrating[刊,中]/许庆红,钟约先,由志福(清华大学机械工程系.北京(100084))//光学技术.—2000,26(2).-126 -129,133分析了系统在标定中精度不高。

出处《中国光学》 EI CAS 2001年第2期90-93,共4页 Chinese Optics

关键词光学技术清华大学技术研究纳米连续相位扫描国家重点实验室激光技术半导体激光器相位去包裹光学量

分类号 TG83 [金属学及工艺—公差测量技术]

引文网络
相关文献

1非光学量测试与设备[J].中国光学,2002(4):86-88.
2王建锋,陆荣明.表面粗糙度在线测量的途径[J].无锡职业技术学院学报,2003,2(4):15-17.
3K.Mitsui,杨光荣.在线测量表面粗糙度的传感器及其应用[J].宇航计测技术,1992,11(4):37-43.
4潘铭.五轴数控机床精度检测以及标定技术应用分析[J].科技创新与应用,2016,6(27):157-157. 被引量：3
5Wolfgang Tuzinsky(等) 贺廷(译) 翟玉民(校).长材和扁材的在线尺寸测量[J].现代冶金（内蒙古）,2009(4):78-79.
6Michael Lau.装配系统里的精加工[J].汽车制造业,2006(4):49-49.
7非光学量测试与设备[J].中国光学,2002(2):92-94.
8张秋鄂,李永正.精密激光刻划机中的光学技术[J].长春光学精密机械学院学报,1997,20(4):43-45.
9郭澄若,齐藤善夫.激光切割国产中厚板几个问题的探讨[J].金属加工（冷加工）,2016(5):22-23.
10光学加工概论[J].中国光学,2001(3):102-102.

中国光学

2001年第2期

浏览历史

内容加载中请稍等...

非光学量测试与设备

相关作者

相关机构

相关主题

浏览历史