摘要
本文使用数值分析方法研究测试环境对被测器件（ＤＵＴ）的影响。采用ＴＬＭ（传输线模型）方法对不同测试环境中被测器件表面的电场分布进行了计算。数值结果表明，环境确实对被测器件表面的场分布有影响，尤其是对于不能被考虑为电小尺寸的器件更甚。因此，当对非电小尺寸的器件进行电磁兼容性测试时，需要仔细考虑以减少测试误差。
出处
《中国传媒大学学报（自然科学版）》
1998年第2期3-9,共7页
Journal of Communication University of China：Science and Technology
