光谱分析与光谱测量

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摘要 O433.4 97063564傅里叶红外显微光谱技术测量HeCdTe晶片组分分布与截止波长分布=Distribution of the compositionand the cut-off wavelength of HgCdTe waferdetermined by Fourier transform infrared microscopy[刊,中]/胡晓宁,龚海梅,李言谨。

出处《中国光学》 EI CAS 1997年第6期10-12,共3页 Chinese Optics

关键词光谱分析光谱测量光谱学红外显微光谱红外光谱组分分布双光子辐射谱极化聚合物分子工程学单色光石英退偏器

分类号 O433.4 [机械工程—光学工程]

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