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STUDY ON THE SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH WIDE MEASURING RANGE

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摘要 STUDYONTHESCANNINGPROBEMICROSCOPEWITHWIDEMEASURINGRANGEZhangHonghai,CaoWei,LiWenju,ShiHanmin,ChenRiyaoHuazhngUniversityofScie...
出处 《Chinese Journal of Mechanical Engineering》 SCIE EI CAS CSCD 1997年第1期1-6,共3页 中国机械工程学报(英文版)
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