摘要
ISO/TC24/SC4第10次会议于1994年6月2日至3日在柏林的德国标准化学会总部举行。根据会议的议程,3日为分组讨论并汇总通过决议。由我国所负责的工作组重点汇报了中国在x射线小角散射粒度分析方面所作的工作,国标制定情况,实验验证,软件开发和标样问题,并对其它粒度分析方法提出了我们的看法。 1.粒度分析——X射线小角散射法(WG10) WG10工作组组长张晋远教授借助于投影仪在全体会议上作了20多分种的报告。重点介绍了:
出处
《标准生活》
1995年第5期19-20,共2页
Standard Living
