光学薄膜参数、测试及设备

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摘要 O484.5 95021095Y—Ba—Cu—O超导薄膜在其临界温度附近的克尔效应观测[会,中]/钱小陵(首都师范大学物理系),王国文(北京大学物理系)∥第6届全国基础光学学术报告会.—大连,94.6利用偏振面微小旋转的测量技术,对氧化锆和钛酸锶基底上的Y—Ba—Cu—O薄膜进行反复测量,垂直薄膜的磁场加高到大约0.5T(5000高斯)

出处《中国光学》 EI CAS 1995年第2期57-58,共2页 Chinese Optics

关键词临界温度克尔效应超导薄膜分子二阶非线性光学极化率基础光学首都师范大学测量技术学术报告会物理系光学薄膜

分类号 O484.41 [理学—固体物理]

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