摘要
O432.1 95010035 光热辐射测量位相法检测材料内部缺陷的原理和装置=The principle and equipment of detectingmaterial inner defects using the phase ofPTR[刊,中]/李佩赞,王钦华(苏州大学)//仪器仪表学报.—1994,15(3).—265—268描述了应用光热辐射测量位相法检测材料内部缺陷的原理和装置。通过理论分析和实测结果,指出位相法检测优于振幅法检测,并对缺陷线度进行了定量计算。图4参5(许锦贤)O432.1 95010036半光强定位的计算机仿真及应用=Computersimulation and application of half-intensitypositioning[刊,中]/阎贵军,吕海宝,华洋安(国防科技大学.湖南,长沙(410073))//光学仪器.—1994,
出处
《中国光学》
EI
CAS
1995年第1期6-6,共1页
Chinese Optics
