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砷化镓器件发展的现状与展望
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摘要
本文介绍GaAs器件,重点介绍GaAs场效应晶体管(FET)、单片微波集成电路(MMIC)的发展、测试技术、测试设备的现状与展望。
作者
熊时泽
机构地区
航空航天部无线电计量测试研究所
出处
《宇航计测技术》
CSCD
北大核心
1989年第5期28-32,共5页
Journal of Astronautic Metrology and Measurement
关键词
微波器件
砷化镓
测试技术
测试没备
发展
分类号
V447.1 [航空宇航科学与技术—飞行器设计]
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宇航计测技术
1989年 第5期
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