常用表面分析技术名词英文缩写汉译
TRANSLATION OF ACRONYMS IN COMMON USE SURFACE ANALYSIS TECHNOLOGY FROM ENGLISH INTO CHINESE
摘要
AES (Auger Electron Spectroscopy) 俄歇电子谱APS (Appearance Potential Spectroscopy) 出现电势谱ASF (Atomic Sensitivity Factor)
出处
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
1989年第3期207-210,共4页
Chinese Journal of Vacuum Science and Technology
-
1徐炜新.表面分析技术在材料研究中的应用[J].金属材料研究,2005,31(2):11-17. 被引量：1
-
2张强基.表面分析技术及其在材料科学中的应用[J].理化检验（物理分册）,2000,36(3):99-102. 被引量：11
-
3薛群基,阎逢元.几种表面分析技术在材料研究中的应用[J].中国表面工程,1998,11(1):36-40. 被引量：1
-
4吴献.扫描显微镜和低能电子衍射显微镜在表面纳米材料中的应用[J].中国科技信息,2010(1):52-53.
-
5镜头是亮点 明基GH200[J].商业故事（数字通讯）,2012(12):66-66.
-
6无名.建议恢复使用“重量”一词[J].商用汽车,1999(4):51-51.
-
7肖斌,李展平,何炜.CVV俄歇电子谱的退自卷积计算[J].真空科学与技术学报,1991,22(4):263-272.
-
8林荣富,王虹川,王迅.全国产化的低能电子衍射——俄歇联合谱仪[J].仪器仪表学报,1987,8(3):317-322.
-
9陈虞峰,黄金林.扫描隧道显微镜[J].真空科学与技术学报,1989,20(2):135-140.
-
10白春礼.弹道电子发射显微术[J].真空科学与技术学报,1991,22(4):211-222. 被引量：3
