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与存储器统一故障模式的外设接口测试

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摘要 本文讨论了计算机系统存储器与外设接口故障模式的统一性,并对两个典型的 I/O 接口 PIO 与 CTC 在这种统一模式下进行了测试。
出处 《微处理机》 1989年第4期63-68,共6页 Microprocessors
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