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半导体器件的静电放电损伤及防护(下)
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摘要
本文主要介绍了为防止半导体器件静电损伤,在设计上所采取的几种保护电路,以及在制造、测试、试验、传递、包装、运输、使用等各个环节中防止产生静电的措施。
作者
邓永孝
机构地区
航空航天部半导体器件失效分析中心
出处
《质量与可靠性》
1989年第5期31-34,共4页
Quality and Reliability
关键词
静电放电损伤
半导体器件
保护电路
保护网络
寄生电容
反向击穿
沟道长度
印制板
泄放
静电能
分类号
V4 [航空宇航科学技术]
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质量与可靠性
1989年 第5期
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