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半导体器件的静电放电损伤及防护(下)

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摘要 本文主要介绍了为防止半导体器件静电损伤,在设计上所采取的几种保护电路,以及在制造、测试、试验、传递、包装、运输、使用等各个环节中防止产生静电的措施。
作者 邓永孝
出处 《质量与可靠性》 1989年第5期31-34,共4页 Quality and Reliability
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