ASE Test公司授予惠瑞捷“2008年年度供应商”称号
出处
《国外电子测量技术》
2009年第3期20-20,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
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1本刊通讯员.ASE Test公司授予惠瑞捷“2008年年度供应商”称号[J].电子与封装,2009,9(3):45-46.
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2ASE Test公司授予惠瑞捷“2008年年度供应商”称号[J].半导体行业,2009(1):68-68.
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3赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代NVM设备调试和设计特性分析[J].电信网技术,2008(4):43-43.
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4惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间[J].电子测量技术,2007,30(3):192-192.
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5赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代45nm非易失性存储器设备调试和设计特性分析[J].半导体技术,2008,33(4):376-376.
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6惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间[J].电子与电脑,2007(4):41-41.
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7惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间[J].电信技术,2007(4):54-54.
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8本刊通讯员.惠瑞捷荣登VLSI Research客户满意度榜首[J].电子与封装,2009,9(7):21-21.
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9Rambus选择惠瑞捷V93000 HSM系列测试下一代超高速存储芯片[J].电信网技术,2008(4):54-54.
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10SiTest Solutions采用惠瑞捷V5000e进行闪存测试[J].国外电子测量技术,2008,27(10):81-81.
