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3D集成缺乏设计和测试支持
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摘要
近日在加州Burlingame举行的“半导体集成和封装3D架构会议”上,来自北卡微电子咨询公司(MCNC)的咨询师PhilipGarrou重点介绍了该技术的起源和面临的挑战,并指出,在1980到2000年间微缩化的趋势已经开始转向3D架构。
作者
Alexander E. Braun
机构地区
Senior Editor
出处
《集成电路应用》
2009年第1期42-42,共1页
Application of IC
关键词
3D
集成
测试
设计
咨询公司
半导体
微电子
架构
分类号
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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10
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集成电路应用
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