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集成电路制程可靠性介绍(一)
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摘要
集成电路制程可靠性是通过特殊设计的电子器件结构来研究集成电路制程工艺相关的可靠性失效模式的物理模型、寿命评估方法,并针对主要失效机理提出对策措施、消除制程开发和生产阶段中的可靠性问题,从而保证集成电路在特定使用年限内的可靠性。表1从可靠性观点的角度,列出了和关键模块相关的失效模式。本文将对这些失效模式的物理图像、模型及重要现象作一简单介绍。
作者
郭强
简维廷
黄宏嘉
机构地区
中芯国际
出处
《集成电路应用》
2009年第1期51-52,共2页
Application of IC
关键词
可靠性问题
集成电路
制程工艺
失效模式
物理模型
器件结构
特殊设计
评估方法
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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谢劲松,陈颖,乔书晓.
印制电路板镀通孔制程可靠性问题与研究技术途径[J]
.印制电路信息,2007,15(8):28-33.
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陈镜波,何小琦,章晓文.
厚膜DC/DC电源VDMOS器件失效机理及研究现状[J]
.半导体技术,2010,35(2):176-180.
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4
孔令军,任立军.
液晶显示器寿命评估[J]
.液晶与显示,2011,26(2):154-157.
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肖雷,黄永忠,邱荣邦.
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.电子科学技术,2014,1(3):327-331.
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罗俊,王健安,郝跃,代天君,晏开华,李金龙,黄姣英.
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.微电子学,2014,44(4):523-526.
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集成电路应用
2009年 第1期
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